Caracterización estructural de materiales por Difracción de Rayos-X

Del 24 al 26 de junio de 2019

Póster informativo

Coordinador:
M. en C. María Luisa Ramón García

Horario:
De 10:00 a 14:00 hrs. de lunes a miércoles/>
Objetivo:
Adquirir conocimientos básicos teóricos y prácticos para el análisis de los patrones de difracción de rayos X de muestras policristalinas.

Cuotas de inscripción:

Profesionistas:$2,000.00
Académicos* : $1,500.00
Estudiantes*: $500.00

* Acreditados con credencial.
Fecha limite de inscripción: 13 de junio de 2019

Hoteles:

(Llamar directamente)

* Holiday Inn Express
Av. Morelos Sur No. 133, Col. Las Palmas, Cuernavaca, Morelos.
Tel: 01 777- 310 5333
01 – 800 – 000 4000

* Holiday Inn
Blvd. Díaz Ordaz No. 86, Col. Acapanzingo, Cuernavaca, Morelos.
Tel: 01-777- 362 0203
01-800 – 009 99 00

* Hotel Príncipe.
Av. Emiliano Zapata No. 23, Temixco, Morelos.
Tel 01 ( 777 ) 325-0304

* Hotel Parador de Manolos.
Hidalgo 30, Temixco Mor.
Tel: 01 ( 777 ) 325-0480,
Fax: 01 ( 777 ) 325-0841

* Hotel Parador del Rey
Fortalecimiento No. 10, Col. Las Animas, Temixco, Mor.
Tel. 326-41-50, fax 326-41-49

Informes:
e-mail:  uec@ier.unam.mx
Tel: +52 (777) 362-0090 ext. 29824
Tel. directo: +52 (55) 5622-9824

Contacto:

e-mail: dir@ier.unam.mx
Tels. (52) 777 362 0090 (ext. 29744) y (52) 555 622 9744
Priv. Xochicalco S/N Temixco, Morelos 62580 México. (Mapa)

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